ＪＦＥテクノリサーチ、医薬品展に出展 非破壊検査など紹介

　ＪＦＥテクノリサーチ（本社＝東京都千代田区、松岡才二社長）は先週3日から5日まで、東京ビッグサイトを会場に開催された医薬品や化粧品の展示会・インターフェニックスジャパン製造展に出展した。受託試験・非破壊検査で医薬品開発や品質管理をトータルサポートすることをテーマに、元素不純物分析や有機不純物の構造推定、ロット差分析、表面・物理解析、非破壊検査、数値解析（ＣＡＥ）などについて紹介、3日間で約100社、150人を超える来場者があった。